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Thick-film 厚陶瓷測量工位

厚陶瓷測量工位原理

不同於薄膜應變計,惠斯通電橋會直接貼於陶瓷薄膜上。由於外部壓力所導致的薄膜彎曲會引起惠斯通電橋電阻的變更,它將會轉換為跟壓力成正比的信號。使用陶瓷可對腐蝕介質實現更高的耐化學腐蝕性。其測量範圍高於薄膜 DMS 工藝,但其測量精度未達到它的水平。

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