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Thin-film 薄膜應變計

薄膜應變計原理

薄膜惠斯通電橋作為純電阻傳感元件,可直接貼於不銹鋼薄膜上。由於外部壓力所導致的薄膜彎曲會引起惠斯通電橋電阻的變更,它將會轉換為跟壓力成正比的信號。應用這一測量工藝時,可實現極高的斷裂壓力及高度精準的壓力測量。即使應用於具有衝擊力及振動負載的領域中,也是可以順利實現的。

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