Bürkert
Thin-film 薄膜應變計
薄膜應變計原理
薄膜惠斯通電橋作為純電阻傳感元件，可直接貼於不銹鋼薄膜上。由於外部壓力所導致的薄膜彎曲會引起惠斯通電橋電阻的變更，它將會轉換為跟壓力成正比的信號。應用這一測量工藝時，可實現極高的斷裂壓力及高度精準的壓力測量。即使應用於具有衝擊力及振動負載的領域中，也是可以順利實現的。
薄膜應變計原理
薄膜惠斯通電橋作為純電阻傳感元件，可直接貼於不銹鋼薄膜上。由於外部壓力所導致的薄膜彎曲會引起惠斯通電橋電阻的變更，它將會轉換為跟壓力成正比的信號。應用這一測量工藝時，可實現極高的斷裂壓力及高度精準的壓力測量。即使應用於具有衝擊力及振動負載的領域中，也是可以順利實現的。